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步入式恒溫恒濕測(cè)試房用于檢驗(yàn)航空航天產(chǎn)品、?信息電子儀器儀表、?材料、?電工、?電子產(chǎn)品以及各種電子元?dú)饧诟叩蜏鼗驖駸岘h(huán)境下的各項(xiàng)性能指標(biāo)。它能夠模擬和控制高低溫環(huán)境，?以及濕熱條件，?為產(chǎn)品提供全面的環(huán)境適應(yīng)性測(cè)試。?這種設(shè)備在設(shè)計(jì)和制造時(shí)考慮了多種因素，?以確保其能夠準(zhǔn)確地模擬復(fù)雜的自然環(huán)境條件，?從而幫助企業(yè)和研究機(jī)構(gòu)評(píng)估產(chǎn)品的可靠性和耐用性。?
光老化測(cè)試室是指溫濕度分布均勻度比較密，如普通的恒溫恒濕室相差5~10度誤差，而愛(ài)佩科技組裝的恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室誤差分布在正負(fù)2度以內(nèi)，波動(dòng)度在正負(fù)0.5度以內(nèi)，溫度解析精度：0.01℃，濕度解析精度：0.1%R.H，溫度控制精度 ：±0.2℃，濕度控制精度：±2%R.H。
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